主要特點

雙向掃描速度最高可達 200 納米/秒

優(yōu)秀的 SSSER

六款型號，波長范圍涵蓋 1240 納米至 1680 納米

波長調(diào)諧和連續(xù)掃描模式

主動模式無跳頻操作

應用程序

無源光學元件

光子集成電路

用于研發(fā)的多用途可調(diào)諧激光器

高速光子集成電路（PIC）測試

集成光子學可以包含具有高對比度光譜的復雜光學元件。例如，環(huán)形諧振器可能具有非常尖銳的特征，導致插入損耗難以表征。除了插入損耗之外，一些器件還需要以相同的精度進行回波損耗或偏振相關(guān)損耗的擴展測量。此外，為了加快光子集成電路（PIC）的表征速度，還需要同時測試多個器件或單個器件的輸出。為了測試此類器件，T200S 激光器可以與EXFO 的元件測試平臺CTP10配合使用。CTP10 具有高分辨率和高精度的光譜測量能力， 是一個集成解決方案，可以充分發(fā)揮 T200S 的潛力，實現(xiàn) 200 nm/s的 掃描速度。T200S 也兼容 EXFO 的緊湊型元件測試儀CT440，其掃描速度為 100 nm/s。