主要特點(diǎn)

掃描速度最高可達(dá) 200 nm/s

在可調(diào)諧光譜范圍內(nèi)輸出 10 dBm

優(yōu)秀的 SSSER

波長(zhǎng)覆蓋范圍：O波段和CL波段

波長(zhǎng)調(diào)諧和連續(xù)掃描模式

主動(dòng)模式無跳頻操作

應(yīng)用程序

無源光學(xué)元件

光子集成電路

用于研發(fā)的多用途可調(diào)諧激光器

高速光子集成電路（PIC）測(cè)試

集成光子學(xué)可以包含具有高對(duì)比度光譜的復(fù)雜光學(xué)元件。例如，環(huán)形諧振器可能具有非常尖銳的特征，導(dǎo)致插入損耗難以表征。除了插入損耗之外，一些器件還需要以相同的精度進(jìn)行回波損耗或偏振相關(guān)損耗的擴(kuò)展測(cè)量。此外，為了加快光子集成電路（PIC）的表征速度，還需要同時(shí)測(cè)試多個(gè)器件或單個(gè)器件的輸出。為了測(cè)試此類器件，T200S 激光器可以與EXFO 的元件測(cè)試平臺(tái)CTP10配合使用。CTP10 具有高分辨率和高精度的光譜測(cè)量能力， 是一個(gè)集成解決方案，可以充分發(fā)揮 T200S 的潛力，實(shí)現(xiàn) 200 nm/s的 掃描速度。T200S 也兼容 EXFO 的緊湊型元件測(cè)試儀CT440，其掃描速度為 100 nm/s。