適用于各種光器件

高光學(xué)性能

• 波長分辨率：
  0.05nm(標配機型)
  0.03nm(高性能機型)
• 波長范圍：
  1200 ~ 1700nm(SW型)
  700 ~ 1700nm(EW型)
• 波長精度：±0.02nm

• 功率范圍：+20 ~ ?80dBm

  減少生產(chǎn)測試時間

加快測量速度

通過引入CW光專用靈敏度模式[RAPID]，相較于以往機型，測量速度可提高多達20倍。這將縮短光譜測量所需的時間，提高生產(chǎn)效率。

與傳統(tǒng)機型相比
參考值跨度為100nm，25001個采樣點，平均值為1，噪聲水平約為?60 dBm

 生產(chǎn)線空間優(yōu)化

AQ6361體積不到AQ6370E的一半，可以成對安裝在標準機架上。這有助于降低復(fù)雜生產(chǎn)線和芯片測試儀所占用的體積，從而優(yōu)化空間。

 適用于各種光模塊

根據(jù)測量應(yīng)用，可以選擇從0.03nm(高性能機型)到2nm的波長分辨率。此外，AQ6361還能提供高動態(tài)范圍測量，具有73dB的出色雜散光抑制性能(高性能機型)。

ITLA的光譜