TSL510 Santec 圣德科可調(diào)諧激光光源
TSL510 Santec 可調(diào)諧激光光源 1480-1640nm (C+L 波段) ±1pm 波長(zhǎng)精度
主要特性：
Santec（圣德科）源自日本，是光通信測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域的專業(yè)品牌，憑借多年技術(shù)積淀，專注于高精度激光測(cè)試解決方案研發(fā)，在全球光通信測(cè)試市場(chǎng)擁有較高認(rèn)可度。
圣德科核心產(chǎn)品線以光測(cè)試設(shè)備為主，注重性能穩(wěn)定性與精度，其設(shè)備廣泛應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室科研、工業(yè)生產(chǎn)等場(chǎng)景，為行業(yè)提供可靠的技術(shù)支持。
Santec TSL510 是圣德科推出的高精度可調(diào)諧激光光源，專為光通信研發(fā)與測(cè)試設(shè)計(jì)，覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，適配多類精密光學(xué)測(cè)試需求。
產(chǎn)品具備 ±1pm 超高波長(zhǎng)精度、±0.01dB 功率穩(wěn)定性，支持 100nm/s 高速掃描，集成低偏振相關(guān)損耗（PDL<0.05dB）與內(nèi)置波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能，保障測(cè)試精準(zhǔn)。
該設(shè)備由美佳特科技獨(dú)家供應(yīng)，同時(shí)提供 TSL510 中文說(shuō)明書、產(chǎn)品手冊(cè)及價(jià)格咨詢、技術(shù)答疑等配套服務(wù)，覆蓋用戶采購(gòu)與使用全流程。
寬波段與高精度兼顧：覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，滿足光通信主流測(cè)試需求，±1pm 波長(zhǎng)精度可精準(zhǔn)定位測(cè)試波長(zhǎng)，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。
高穩(wěn)定性與高效率：±0.01dB 功率穩(wěn)定性減少長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試的信號(hào)波動(dòng)，100nm/s 高速掃描模式大幅縮短測(cè)試時(shí)間，提升批量檢測(cè)效率。
低損耗與易操作：低偏振相關(guān)損耗（PDL<0.05dB）降低偏振對(duì)測(cè)試的干擾，內(nèi)置波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能無(wú)需外部設(shè)備，用戶可自行完成校準(zhǔn)，降低使用成本。
高適配與耐用：采用通用接口，可與主流光測(cè)試設(shè)備兼容，融入現(xiàn)有系統(tǒng)；經(jīng)嚴(yán)格環(huán)境測(cè)試，在高低溫、濕度變化下穩(wěn)定運(yùn)行，適應(yīng)多樣場(chǎng)景。
DWDM 測(cè)試：用于密集波分復(fù)用（DWDM）系統(tǒng)，精準(zhǔn)輸出多波長(zhǎng)激光模擬信號(hào)，幫助測(cè)試信道隔離度、插入損耗等指標(biāo)，保障系統(tǒng)穩(wěn)定。
光器件表征：適配光耦合器、光濾波器等光器件測(cè)試，通過(guò)調(diào)節(jié)波長(zhǎng)與功率，檢測(cè)插入損耗、偏振相關(guān)損耗，支撐器件研發(fā)與質(zhì)量檢測(cè)。
硅光芯片測(cè)試：針對(duì)硅光芯片高精度測(cè)試需求，憑借 ±1pm 波長(zhǎng)精度與低 PDL，檢測(cè)光傳輸效率、調(diào)制性能，助力芯片研發(fā)與質(zhì)量控制。
實(shí)驗(yàn)室科研：作為高校、科研機(jī)構(gòu)的光通信實(shí)驗(yàn)工具，提供穩(wěn)定精準(zhǔn)的激光光源，支持新材料、新技術(shù)研究，輔助獲取準(zhǔn)確實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
生產(chǎn)線檢測(cè)：用于光模塊、光纖跳線等產(chǎn)品的出廠檢測(cè)，通過(guò)高速掃描快速完成光性能測(cè)試，篩選不合格產(chǎn)品，確保出廠質(zhì)量達(dá)標(biāo)。
