關(guān)鍵性能指標(biāo)

模式生成與誤差分析，高速誤碼率測(cè)量，最高可達(dá) 28.6 Gb/s

用于精確信號(hào)完整性分析的快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬誤差檢測(cè)器

物理層測(cè)試套件，包含掩模測(cè)試、抖動(dòng)峰值、誤碼率輪廓和Q因子分析，可使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義的抖動(dòng)容限模板庫(kù)進(jìn)行全面測(cè)試

結(jié)合誤碼率相關(guān)性的眼圖分析

可選的抖動(dòng)圖全面抖動(dòng)分解 - 適用于長(zhǎng)模式（例如 PRBS-31）抖動(dòng)

專利的“錯(cuò)誤定位分析?”功能可幫助您快速了解誤碼率 (BER) 性能瓶頸，評(píng)估確定性錯(cuò)誤與隨機(jī)錯(cuò)誤，執(zhí)行詳細(xì)的模式相關(guān)錯(cuò)誤分析、突發(fā)錯(cuò)誤分析或無(wú)錯(cuò)誤間隔分析。

主要特點(diǎn)

集成式、校準(zhǔn)式應(yīng)力生成裝置，可滿足各種標(biāo)準(zhǔn)對(duì)受壓接收機(jī)靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限的測(cè)試要求。

正弦抖動(dòng)高達(dá) 100 MHz

隨機(jī)抖動(dòng)

有界、不相關(guān)的抖動(dòng)

正弦干擾

擴(kuò)頻時(shí)鐘

PCIe 2.0 和 3.0 接收器測(cè)試

8xFC 和 10GBASE-KR 測(cè)試的 F/2 抖動(dòng)生成

IEEE802.3ba 和 32G 光纖通道測(cè)試

電刺激眼部測(cè)試

PCI Express

10/40/100 Gb 以太網(wǎng)

SFP+/SFI

OIF/IEC

光纖通道（FC8、FC16、FC32）

小時(shí)

USB 3.1 

InfiniBand（SDR、QDR、FDR、EDR）

公差合規(guī)性模板測(cè)試及裕度測(cè)試

結(jié)合誤碼率相關(guān)性的眼圖分析

應(yīng)用程序

設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析

高速、復(fù)雜設(shè)計(jì)的特性分析

串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的認(rèn)證測(cè)試

高速I/O組件和系統(tǒng)的設(shè)計(jì)/驗(yàn)證

信號(hào)完整性分析——掩模測(cè)試、抖動(dòng)峰值、誤碼率輪廓、抖動(dòng)圖和Q因子分析

光收發(fā)器的設(shè)計(jì)/驗(yàn)證

鏈接域

眼圖一直以來(lái)都能以簡(jiǎn)單直觀的方式展現(xiàn)數(shù)字性能。然而，由于用于呈現(xiàn)兩者性能的儀器在架構(gòu)上存在根本差異，因此很難將眼圖與誤碼率 (BER) 性能直接關(guān)聯(lián)起來(lái)。眼圖所包含的數(shù)據(jù)量較淺，難以發(fā)現(xiàn)罕見(jiàn)事件。而誤碼率測(cè)試儀 (BERT) 則對(duì)每個(gè)比特進(jìn)行計(jì)數(shù)，因此能夠基于更豐富的數(shù)據(jù)集提供測(cè)量結(jié)果，但卻缺乏直觀的信息呈現(xiàn)方式，不利于故障排除。