功率半導(dǎo)體解決方案

能效和可靠性

加快綠色、清潔可再生、高效和大功率產(chǎn)生組件和設(shè)備的設(shè)計(jì)。

當(dāng)今世界瞬息萬變，對(duì)有限的能源資源進(jìn)行管理變得更加重要。碳化硅 (SiC) 和氮化鎵（GaN）等寬帶隙半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)步正在促成清潔、可再生和可靠的能源生態(tài)系統(tǒng)的發(fā)展，但也給工程師帶來了新的挑戰(zhàn)。工程師可依靠未知電子儀器提供的測(cè)量解決方案，應(yīng)對(duì)今天和未來的電氣化生態(tài)系統(tǒng)挑戰(zhàn)。 半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和制造 – 未知電子儀器半導(dǎo)體測(cè)試方案

助力您的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)更快上市未知電子儀器，提供從晶元到系統(tǒng)的專業(yè)半導(dǎo)體測(cè)試方案。包括半導(dǎo)體材料測(cè)試平臺(tái)、半導(dǎo)體工藝測(cè)試平臺(tái)、芯片設(shè)計(jì)測(cè)試平臺(tái)、芯片驗(yàn)證測(cè)試平臺(tái)等。

? 半導(dǎo)體材料測(cè)試平臺(tái)包括：

針對(duì)晶元級(jí)半導(dǎo)體材料或半導(dǎo)體器件，未知電子儀器提供半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（4200A-SCS），用于測(cè)試分離器件、材料的三大特性：1、直流特性，如IV曲線、IT曲線、VT曲線、RT曲線等； 2、電容電壓特性CV曲線（CVU）；3脈沖特性測(cè)試(PMU)，支持超高速脈沖測(cè)試。支持以上特性的多通道同步測(cè)試。

真實(shí)場(chǎng)景模擬：在操作系統(tǒng)環(huán)境下測(cè)試芯片功能

應(yīng)用性能驗(yàn)證：跑分軟件、游戲、AI推理等實(shí)際負(fù)載

功耗性能權(quán)衡：不同工作負(fù)載下的能效評(píng)估

四、新興挑戰(zhàn)與測(cè)試創(chuàng)新

1. 先進(jìn)封裝的測(cè)試難題

隨著Chiplet、3D堆疊、SiP等先進(jìn)封裝技術(shù)普及：

測(cè)試訪問受限：芯片間互連無法直接探針接觸

熱耦合效應(yīng)：堆疊芯片的熱干擾影響測(cè)試準(zhǔn)確性

known good die：確保每個(gè)裸片在封裝前已知是好的

2. AI芯片的測(cè)試特殊性

神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)驗(yàn)證：如何驗(yàn)證萬億次矩陣運(yùn)算的正確性？

近似計(jì)算容錯(cuò)：AI芯片允許的計(jì)算誤差邊界如何測(cè)試？

能效比驗(yàn)證：TOPS/Watt（每瓦特萬億次操作）的精確測(cè)量

3. 安全芯片的測(cè)試悖論

安全與測(cè)試的矛盾：測(cè)試接口可能成為安全攻擊的后門

PUF（物理不可克隆函數(shù)）測(cè)試：如何測(cè)試本身就依賴制造差異的特性？

側(cè)信道攻擊防護(hù)驗(yàn)證：如何驗(yàn)證芯片不泄露功耗、電磁等信息？

五、測(cè)試的經(jīng)濟(jì)學(xué)：不只是成本，更是價(jià)值投資

測(cè)試成本構(gòu)成：

測(cè)試設(shè)備投資：高端ATE設(shè)備單臺(tái)可達(dá)數(shù)百萬美元

測(cè)試開發(fā)成本：測(cè)試程序開發(fā)、硬件設(shè)計(jì)、驗(yàn)證

測(cè)試時(shí)間成本：每顆芯片的測(cè)試時(shí)間直接影響吞吐量

測(cè)試物料消耗：測(cè)試插座、探針卡、負(fù)載板等耗材

但更重要的是測(cè)試避免的成本：

客戶退貨損失：避免因芯片失效導(dǎo)致的批量退貨

現(xiàn)場(chǎng)故障修復(fù)：避免產(chǎn)品上市后的現(xiàn)場(chǎng)維修與更換

品牌聲譽(yù)損失：避免因質(zhì)量問題的市場(chǎng)信任危機(jī)

法律責(zé)任風(fēng)險(xiǎn)：避免因芯片失效導(dǎo)致的安全事故責(zé)任

行業(yè)共識(shí)：在半導(dǎo)體行業(yè)，測(cè)試成本通常占芯片總成本的8%-15%，但對(duì)于高端芯片和車規(guī)芯片，這一比例可能達(dá)到25%-30%——這是為可靠性支付的必要保險(xiǎn)費(fèi)。

六、未來展望：智能測(cè)試與預(yù)測(cè)性質(zhì)量

1. 基于AI的智能測(cè)試優(yōu)化

自適應(yīng)測(cè)試流程：根據(jù)前序測(cè)試結(jié)果動(dòng)態(tài)調(diào)整后續(xù)測(cè)試項(xiàng)

缺陷模式預(yù)測(cè)：基于大數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)可能出現(xiàn)的缺陷類型與位置

測(cè)試覆蓋優(yōu)化：智能選擇最小測(cè)試集達(dá)到最大覆蓋率

2. 全生命周期質(zhì)量追蹤

芯片數(shù)字護(hù)照：每顆芯片從出生到退役的完整測(cè)試記錄

預(yù)測(cè)性維護(hù)：基于使用數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)芯片剩余壽命與失效風(fēng)險(xiǎn)

質(zhì)量溯源系統(tǒng)：出現(xiàn)問題時(shí)快速定位制造批次的共性缺陷

3. 虛擬測(cè)試與數(shù)字孿生

測(cè)試前仿真：在實(shí)際制造前通過仿真預(yù)測(cè)測(cè)試結(jié)果

虛擬探針：通過模擬而非物理接觸進(jìn)行參數(shù)測(cè)量

數(shù)字孿生驗(yàn)證：芯片虛擬模型與實(shí)際芯片的持續(xù)比對(duì)驗(yàn)證

結(jié)語：測(cè)試是信任的基石，可靠性的最后防線

在萬物互聯(lián)、智能泛在的時(shí)代，半導(dǎo)體芯片已成為數(shù)字社會(huì)的“細(xì)胞”。從智能手機(jī)到智能電網(wǎng)，從醫(yī)療設(shè)備到國防系統(tǒng)，芯片的可靠性直接關(guān)系到：

個(gè)人安全：心臟起搏器、自動(dòng)駕駛的每一次正確響應(yīng)

經(jīng)濟(jì)穩(wěn)定：金融交易系統(tǒng)、電力控制的持續(xù)可靠運(yùn)行

國家安全：通信加密、軍事裝備的關(guān)鍵能力保障

半導(dǎo)體測(cè)試早已超越單純的技術(shù)范疇，成為：

技術(shù)保障：確保芯片從物理實(shí)現(xiàn)到邏輯功能的完美映射

經(jīng)濟(jì)杠桿：以可控的測(cè)試成本避免不可控的失效損失

社會(huì)責(zé)任：對(duì)用戶安全、數(shù)據(jù)隱私、系統(tǒng)可靠性的莊嚴(yán)承諾

每一次嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試，都是對(duì)摩爾定律極限的尊重；
每一項(xiàng)苛刻的驗(yàn)證，都是對(duì)產(chǎn)業(yè)信任的珍視；
每一輪完整的篩查，都是對(duì)未來可靠的期許。

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)攀登技術(shù)高峰的征程中，測(cè)試不是拖累創(chuàng)新的負(fù)擔(dān)，而是放飛想象的錨點(diǎn)——正是有了測(cè)試提供的可靠性保障，設(shè)計(jì)師才能大膽探索新架構(gòu)，工藝工程師才能全力推進(jìn)新制程，應(yīng)用開發(fā)者才能安心構(gòu)建新體驗(yàn)。

半導(dǎo)體測(cè)試，這門連接微觀物理與宏觀應(yīng)用的精密科學(xué)，正以沉默而堅(jiān)定的方式，守護(hù)著數(shù)字時(shí)代的每一份信任，保障著智能世界的每一次可靠運(yùn)行。